ਇਲੈਕਟ੍ਰੋਨ ਮਾਈਕਰੋਸਕੋਪ: ਰੀਵਿਜ਼ਨਾਂ ਵਿਚ ਫ਼ਰਕ

ਸਮੱਗਰੀ ਮਿਟਾਈ ਸਮੱਗਰੀ ਜੋੜੀ
ਛੋ →‎top: clean up ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਨਾਲ AWB
ਲਾਈਨ 1:
[[File:Transmission Electron Microscope operating principle.ogg|thumb|upright=1.5|ਇੱਕ ਟਰਾਂਸਮਿਸ਼ਨ ਇਲੈਕਟ੍ਰੋਨ ਮਾਈਕਰੋਸਕੋਪ ਦਾ ਓਪਰੇਟਿੰਗ ਪ੍ਰਿੰਸੀਪਲ।]]
ਇੱਕ '''ਇਲੈਕਟ੍ਰੋਨ ਮਾਈਕਰੋਸਕੋਪ''' ([[ਅੰਗਰੇਜ਼ੀ]]:Electron microscope) ਇੱਕ ਮਾਈਕਰੋਸਕੋਪ ਹੈ ਜੋ ਐਕਸਲਰੇਟਿਡ ਇਲੈਕਟ੍ਰੌਨਸ ਦੀ ਇੱਕ ਬੀਮ ਨੂੰ ਰੋਸ਼ਨੀ ਦੇ ਸੋਮੇ ਵਜੋਂ ਵਰਤਦੀ ਹੈ। ਜਿਵੇਂ ਕਿ ਇਕਇੱਕ ਇਲੈਕਟ੍ਰੌਨ ਦੀ ਤਰੰਗ ਲੰਬਾਈ ਪ੍ਰਕਾਸ਼ ਫ਼ੋਟੋਨਾਂ ਤੋਂ 1,00,000 ਗੁਣਾ ਘੱਟ ਹੁੰਦੀ ਹੈ, ਇਲੈਕਟ੍ਰੋਨ ਮਾਈਕਰੋਸਕੋਪਾਂ ਵਿੱਚ ਹਲਕੀਆਂ ਮਾਈਕਰੋਸੌਕੌਪਾਂ ਦੇ ਮੁਕਾਬਲੇ ਉੱਚ ਰਿਸੋਲਵਿੰਗ ਪਾਵਰ ਹੁੰਦੀ ਹੈ ਅਤੇ ਇਹ ਬੜੀ ਆਸਾਨੀ ਨਾਲ ਛੋਟੀਆਂ ਵਸਤੂਆਂ ਦਾ ਢਾਂਚਾ ਪ੍ਰਗਟ ਕਰ ਸਕਦਾ ਹੈ।<ref name="erni">{{cite journal|doi=10.1103/PhysRevLett.102.096101|title=Atomic-Resolution Imaging with a Sub-50-pm Electron Probe|year=2009|author=Erni, Rolf|journal=Physical Review Letters|volume=102|page=096101|pmid=19392535|last2=Rossell|first2=MD|last3=Kisielowski|first3=C|last4=Dahmen|first4=U|issue=9|bibcode=2009PhRvL.102i6101E}}</ref>
 
ਇਲੈਕਟਰੋਨ ਮਾਈਕਰੋਸਕੋਪਾਂ ਵਿੱਚ ਇਲੈਕਟ੍ਰੋਨ ਆਪਟੀਕਲ ਲੈਂਸ ਸਿਸਟਮ ਹੁੰਦੇ ਹਨ ਜੋ ਇੱਕ ਆਪਟੀਕਲ ਲਾਈਟ ਮਾਈਕਰੋਸਕੋਪ ਦੇ ਸ਼ੀਸ਼ੇ ਵਾਲੇ ਲੈਸਾਂ ਦੇ ਸਮਾਨ ਹੁੰਦੇ ਹਨ। ਇਲੈਕਟਰੋਨ ਮਾਈਕਰੋਸਕੌਪਾਂ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਵਿਸ਼ਾਲ ਜੀਵ-ਵਿਗਿਆਨ ਅਤੇ ਸੂਖਮ-ਜੀਵਾਣੂਆਂ, ਸੈੱਲਾਂ, ਵੱਡੇ ਅਣੂਆਂ, ਧਾਤਾਂ, ਅਤੇ ਕ੍ਰਿਸਟਲ ਦੀ ਜਾਂਚ ਕਰਨ ਲਈ ਕੀਤੀ ਜਾਂਦੀ ਹੈ।